Промышленное оборудование и приборы неразрушающего контроля Olympus

Промышленные видеоэндоскопы серии IPLEX (GX, GT, NX, G Lite, GAir)

Промышленные видеоэндоскопы Olympus IPLEX предназначены для дистанционного визуального неразрушающего контроля внутренних полостей технологического оборудования, газотурбинных установок, камер сгорания, компрессоров, трубных пучков теплообменников и литых деталей.

Системы оснащены гибкими сменными зондами диаметром от 2,4 до 8,5 мм с высокоточной электромеханической артикуляцией TrueFeel.

Доступны сменные оптические адаптеры прямого и бокового обзора со стереоизмерительными функциями для оценки геометрических размеров дефектов, глубины коррозионных язв и длины трещин.

Прочная вольфрамовая оплетка Tapered Flex обеспечивает высокую устойчивость к истиранию и легкое прохождение крутых изгибов технологических каналов.

Интеллектуальный процессор обработки изображений PulsarPic оптимизирует экспозицию и снижает уровень шумов в темных полостях, создавая четкую картинку высокого разрешения. Приборы комплектуются аккумуляторами повышенной емкости, защитными кейсами и сменными световодами.

Для спецификации: диаметр и длина зонда (от 2,4 до 30 м), направление обзора (прямое/боковое), тип артикуляции и измерительные опции.

Дефектоскопы на фазированных решетках OmniScan X3 и OmniScan MX2

Портативные дефектоскопы Olympus OmniScan сочетают методы ультразвукового контроля на фазированных решетках (PAUT), дифракционно-временной метод (TOFD) и алгоритмы полной фокусировки матрицы (TFM/FMC).

Приборы поддерживают конфигурации до 32:128PR, обеспечивая высокую скорость сканирования сварных швов трубопроводов, композитных панелей и толстостенных резервуаров с формированием трехмерных сечений дефектов.

Применение технологии TFM устраняет необходимость сложной предварительной настройки геометрии фокальных законов, выполняя сквозную фокусировку во всем объеме контролируемой зоны.

Приборы комплектуются износостойкими призмами Rexolite с каналами подачи контактной жидкости, специализированными ручными и полуавтоматическими сканерами Cobra, MapROVER и AxSEAM, а также надежными многоканальными кабелями Hypertronics.

Программное обеспечение дефектоскопа позволяет экспортировать полные A-сканы, B-сканы и C-сканы для метрологической аттестации.

Для спецификации: конфигурация каналов (16:64, 16:128, 32:128), поддержка TFM, тип фазированного датчика, клинья и сканирующее устройство.

Ультразвуковые дефектоскопы серии EPOCH (EPOCH 650 и EPOCH 6LT)

Ультразвуковые дефектоскопы Olympus EPOCH обеспечивают классический одноканальный контроль поковок, литья, балок, осей подвижного состава и сварных соединений.

Приборы оснащены высококонтрастными дисплеями, переключаемыми цифровыми фильтрами в диапазоне от 0,2 до 26,5 МГц и генераторами прямоугольных импульсов PerfectPulse с настраиваемым напряжением и коэффициентом демпфирования.

Прочный корпус со степенью защиты IP66/IP67 гарантирует надежность при работе в тяжелых цеховых и полевых условиях при экстремальных температурах.

Встроенные программные калькуляторы АРД-диаграмм, оценка по стандарту AWS D1.1/D1.5 и построение кривых DAC/ВРЧ позволяют оперативно вычислять эквивалентную площадь и координаты залегания внутренних дефектов.

Приборы поддерживают прямое сохранение сигналов на SD-карты и экспорт отчетов через интерфейс USB.

Для спецификации: требуемый частотный диапазон, интерфейсы датчиков (BNC/LEMO), программные модули (АРД-диаграммы, AWS D1.1, DAC) и тип батареи.

Портативные рентгенофлуоресцентные анализаторы Vanta (Max, Core, Element)

Портативные спектрометры Olympus Vanta осуществляют быстрый количественный химический анализ металлов, сплавов, минералов, катализаторов и грунтов.

Приборы оснащены рентгеновскими трубками мощностью до 50 кВ с анодами из Rh, W или Ag, детекторами кремниевого дрейфа (SDD) с технологией обработки импульсов Axon и степенью защиты корпуса IP54/IP55 для безопасной работы на открытых площадках, карьерах и складах металлопроката.

Обработка сигналов Axon сводит к минимуму температурный дрейф электроники, обеспечивая повторяемость результатов даже при резких колебаниях температуры окружающей среды.

Анализаторы мгновенно идентифицируют марки нержавеющих сталей, титановых, никелевых, кобальтовых и алюминиевых сплавов, проверяют соответствие директивам RoHS и выявляют опасные примеси тяжелых металлов. Доступны настольные док-станции с защитными экранами для работы в лабораторном режиме.

Для спецификации: модель (Max, Core, Element), материал анода рентгеновской трубки, тип калибровочного пакета (сплавы, геохимия, тяжелые металлы).

Ультразвуковые толщиномеры 38DL PLUS, 27MG и магнитный толщиномер Magna-Mike 8600

Прецизионные толщиномеры Olympus 38DL PLUS и 27MG измеряют остаточную толщину стенок труб и емкостей, подверженных внутренней коррозии и эрозии, в диапазоне от 0,08 до 635 мм с компенсацией температуры.

Прибор 38DL PLUS поддерживает работу с раздельно-совмещенными и прямолучевыми преобразователями, ультразвуковой эхо-эхо режим Thru-Coat для измерения толщины металла через слой лакокрасочного покрытия, а также измерение геометрии оксидных пленок на внутренней поверхности котельных труб.

Магнитный толщиномер Magna-Mike 8600 на эффекте Холла производит неразрушающий замер толщины немагнитных материалов (пластиковых бутылок, алюминиевых банок, композитов) с точностью до ±1 % с использованием калиброванных магнитных шариков.

Все приборы оснащены энергонезависимой памятью и программным обеспечением для построения B-сканов толщины стенок.

Для спецификации: метод измерения (ультразвуковой/магнитный), диапазон толщин, рабочая температура объекта и тип контактного датчика.

Прямые металлографические и материаловедческие микроскопы BX53M, MX63 и STM7

Промышленные микроскопы Olympus BX53M и MX63 предназначены для металлографического анализа микроструктуры сплавов, контроля кремниевых пластин и топографии электронных плат.

Модульная конструкция поддерживает методы светлого поля (BF), темного поля (DF), ДИК Номарского и MIX-освещения (направленный темный фон + светлое поле).

Оптическая система UIS2 со скорректированной бесконечностью обеспечивает высокую резкость, плоское поле зрения и точную цветопередачу без хроматических аберраций.

Измерительные микроскопы STM7 комплектуются оптическими линейками с шагом 0,1 мкм, координатным предметным столиком с ходом до 300×300 мм и моторизованным автофокусом по оси Z для метрологического контроля прецизионных механических деталей и микроэлектронных узлов.

Штативы допускают интеграцию моторизованных револьверов и высокоскоростных камер серии DP.

Для спецификации: методы наблюдения (светлое/темное поле, ДИК), тип предметного столика (размеры перемещения), тип тубуса и осветительный блок.

Стереомикроскопы SZX16, SZX7 и цифровые микроскопические комплексы DSX1000

Исследовательские стереомикроскопы Olympus SZX16 построены по оптической схеме Галилея с коэффициентом зума 16,4:1 и числовой апертурой до 0,3 NA, обеспечивая высокую глубину резкости и естественное 3D-восприятие объектов при монтаже микроэлектроники и контроле прецизионной пайки.

Цифровые микроскопы DSX1000 оснащены моторизованным поворотным штативом с углом наклона ±90°, автоматической сменой режимов контрастирования и алгоритмами 3D-профилометрии шероховатости.

Оператор может исследовать образец под любым углом без изменения положения самого образца, а интеллектуальная система сшивки полей зрения формирует панорамные снимки высокого разрешения с непрерывной глубиной резкости.

Комплексы оснащаются бестеневыми кольцевыми осветителями и коаксиальной подсветкой для зеркальных поверхностей.

Для спецификации: кратность зума, тип фронтального объектива (DF PLAPO), освещение (кольцевое/коаксиальное) и исполнение штатива.

Объективы стандарта UIS2 (MPLAPON, LMPLFLN) и цифровые микроскопные камеры DP

Оптические компоненты Olympus включают планапохроматические металлургические объективы UIS2 серий MPLAPON, MPlanFL N, LMPLFLN (с увеличенным рабочим расстоянием) и SLMPLN (со сверхдлинным рабочим расстоянием для глубоких полостей и термокамер).

Цифровые микроскопные камеры DP74, DP28, DP23 и SC180 с интерфейсом USB 3.0 и CMOS-матрицами обеспечивают высокоскоростной захват кадров с калиброванной цветопередачей и интеграцией в измерительное ПО.

Объективы UIS2 обладают повышенной числовой апертурой и увеличенным рабочим расстоянием, что предотвращает случайные соударения с неровными образцами при исследовании полупроводниковых кристаллов, металлографических шлифов и композитных полимеров.

Доступны оптические адаптеры C-Mount различной кратности для прямого сопряжения камер со штативами микроскопов.

Для спецификации: серия и кратность объектива (5x–100x), числовая апертура, рабочее расстояние, модель камеры и C-mount адаптер.