Научные камеры, спектрографы и компоненты Andor Technology / Andor
Поставка и инженерный подбор приборов Andor Technology / Andor: камеры iXon EMCCD, охлаждаемые матрицы iKon, спектрографы Kymera и конфокальные системы Dragonfly.
Сверхчувствительные научные камеры Andor Technology / Andor iXon EMCCD
Научные камеры Andor Technology / Andor серии iXon EMCCD спроектированы для флуоресцентной микроскопии сверхвысокого разрешения и квантовой оптики. Платформа обеспечивает термоэлектрическое охлаждение сенсора до -100 °C и рекордную квантовую эффективность свыше 95%.
- Сенсоры обратной засветки с предельной квантовой отдачей фотодетекторов свыше 95%
- Глубокое термоэлектрическое охлаждение детектора до -100 °C без применения хладагентов
- Аппаратный алгоритм обработки данных SRRF-Stream для получения супер-разрешения микроскопии
- Оптимизированный скоростной режим Optically Centred Crop Mode для динамических биопроцессов
Охлаждаемые ПЗС-камеры Andor Technology / Andor iKon CCD длительного накопления
Линейка ПЗС-камер Andor Technology / Andor iKon разработана для регистрации сверхслабых оптических сигналов в астрономии и люминесцентном анализе. Фирменная вакуумная технология UltraVac гарантирует долговременную стабильность глубокого охлаждения сенсора.
- Постоянная глубоковакуумная герметизация полости сенсора по технологии UltraVac компании
- Ультранизкий темновой ток сенсора для многочасовых непрерывных экспозиций слабого сигнала
- Форматы матриц 1 Мп и 4 Мп с большой оптической диагональю сенсорного приемного поля
- Широкий выбор просветляющих оптических покрытий от глубокого УФ до ближнего ИК диапазона
Научные sCMOS-камеры Andor Technology / Andor Marana и Zyla для скоростной съемки
Высокоскоростные sCMOS-сенсоры Andor Technology / Andor сочетают высокую частоту обновления кадров, мегапиксельное разрешение и сверхнизкий шум считывания. Камеры востребованы в астрономических наблюдениях, адаптивной оптике и квантовых измерениях.
- Обратная засветка сенсора с квантовой отдачей до 95% и разрешением свыше 4.2 Мп
- Шум считывания менее одного электрона при высокой кадровой частоте сканирования поля
- Интерфейсы передачи данных CoaXPress и USB 3.0 для непрерывного скоростного потока
- Герметичный корпус прибора с надежным воздушным или жидкостным контуром теплоотвода
Прецизионные оптические спектрографы Andor Technology / Andor Kymera 193i и 328i
Спектрографы Andor Technology / Andor Kymera построены по оптической схеме Черни-Тернера и обеспечивают высокую светосилу и повторяемость юстировки. Интеллектуальная система адаптивной фокусировки упрощает работу в широком спектральном диапазоне от УФ до ИК.
- Моторизованная турель на четыре дифракционные решетки со встроенным RFID-чипом
- Автоматизированный двухосевой выходной порт для подключения двух научных детекторов
- Запатентованная технология адаптивной фокусировки оптического поля Adaptive Focus
- Широкий рабочий диапазон от глубокого вакуумного ультрафиолета до ближнего ИК-света
Исследовательские спектрографы Andor Technology / Andor Shamrock 500i и 750i
Спектрографы Andor Technology / Andor серии Shamrock обладают увеличенным фокусным расстоянием для разделения близких спектральных линий. Приборы незаменимы для рамановской спектроскопии, лазерно-искровой эмиссии и прецизионной плазменной диагностики.
- Фокусное расстояние 500 мм и 750 мм для достижения высокого оптического разрешения
- Прецизионный привод поворота дифракционных решеток с высокой повторяемостью шага
- Прямая оптическая стыковка с научными матрицами Andor без краевых аберраций поля
- Комплект сменных моторизованных щелей, оптоволоконных адаптеров и фильтровых колес
Конфокальные системы микроскопии Andor Technology / Andor Dragonfly со спиннинг-диском
Многоточечная конфокальная платформа Andor Technology / Andor Dragonfly объединяет быстродействие спиннинг-диска и высокое пространственное разрешение. Оптический модуль Borealis обеспечивает равномерное лазерное освещение поля исследуемого образца.
- Высокоскоростной вращающийся диск со сдвоенными микролинзовыми апертурами пинхолов
- Запатентованная система лазерной подсветки Borealis для предельно ровного поля кадра
- Интеграция режимов конфокальной съемки, широкопольной флуоресценции и метода B-TIRF
- Полная совместимость с мультиволновыми лазерами HLE и аналитическим софтом Imaris
Инженерная интеграция научных камер Andor Technology / Andor в исследовательские комплексы
При монтаже и пусконаладке оптико-электронных приборов Andor Technology / Andor ключевое значение имеет прецизионное сопряжение фланцев C-mount и F-mount с оптическими микроскопами или спектрографами.
Инженеры лабораторий обязаны контролировать рабочий отрезок и плоскостность посадочного фланца, исключая перекосы матрицы относительно оптической оси.
Дополнительно настраивается стабильный теплоотвод: для термоэлектрического охлаждения до предельных отрицательных температур требуется свободная циркуляция окружающего воздуха либо подключение внешнего замкнутого водяного контура с антикоррозийными присадками, что предохраняет элемент Пельтье от перегрева при непрерывной многочасовой эксплуатации.
Технология долговременной вакуумной герметизации UltraVac сенсорных полостей
Фирменная глубоковакуумная герметизация сенсорной полости по технологии UltraVac компании Andor Technology / Andor предотвращает попадание молекул влаги и деградацию полупроводникового кристалла при глубоком охлаждении до -100 °C.
В процессе многолетней эксплуатации герметичный вакуумный объем надежно сохраняет остаточное давление менее 10^-7 мбар, что исключает образование конденсата на входном оптическом окне детектора.
При плановой диагностике прибора технические специалисты тщательно анализируют параметры мощности термоэлектрического модуля Пельтье: рост энергопотребления при достижении заданной рабочей температуры сигнализирует о необходимости проверки теплообменника или внешних вакуумных уплотнений.
Оптическая юстировка и калибровка дифракционных спектрографов Kymera и Shamrock
Спектрографические комплексы Andor Technology / Andor на основе оптической схемы Черни-Тернера требуют регламентной периодической калибровки дисперсии и положения спектральных линий по эталонным газоразрядным лампам (ртутно-аргоновым или неоновым источникам).
Механизм револьверной турели решеток со встроенным считыванием RFID-меток обеспечивает исключительно высокую воспроизводимость длины волны.
При проведении калибровочных процедур оператор запускает алгоритм адаптивной автоюстировки Adaptive Focus Technology, который компенсирует расфокусировку оптического тракта при переходе между ультрафиолетовым, видимым и коротковолновым инфракрасным диапазонами длин волн, гарантируя безупречную резкость спектральных пиков.
Регламент профилактического обслуживания и очистки оптических компонентов Andor
Технический регламент регулярного обслуживания спектрального и микроскопического оборудования Andor Technology / Andor предписывает визуальный осмотр входных окон, дифракционных решеток и коллимирующих зеркал.
Запыление оптических поверхностей снижает общую световую чувствительность системы и вносит паразитные интерференционные шумы в измеряемые спектры.
Очистка внешних защитных стекол проводится исключительно специализированными безворсовыми салфетками и оптическим растворителем высокой чистоты без механического давления.
Прикасаться к рабочей поверхности нарезных дифракционных решеток категорически запрещено нормами завода-изготовителя во избежание повреждения микроструктуры.
Анализ темнового тока, шумов считывания и калибровка квантовой чувствительности
Для подтверждения исходных паспортных параметров научных камер Andor Technology / Andor серии iXon и Marana проводится периодическое тестирование темнового фона и шума считывания аналого-цифрового тракта.
Замер серии темновых кадров (dark frames) с закрытым оптическим затвором при различных временах экспозиции позволяет точно оценить температурную стабильность пикселей и выявить горячие точки матрицы.
Полученные статистические матрицы калибровки заносятся в аналитическое программное обеспечение Solis или сторонние научные пакеты, обеспечивая автоматическое вычитание фонового темнового тока и восстановление полного динамического диапазона измерений во всех исследовательских режимах съемки.
Поставка сменных дифракционных решеток, оптических кабелей и блоков питания Andor
Бесперебойная работа научного аналитического комплекса Andor Technology / Andor обеспечивается своевременной комплектацией сменными узлами и качественными адаптерами.
Подбор дифракционных решеток с требуемой плотностью штрихов (от 150 до 2400 штрихов на мм) и оптимальным углом блеска производится в строгом соответствии с оптическим техзаданием заказчика.
В перечень регулярного снабжения входят высокоскоростные помехозащищенные кабели интерфейса CoaXPress, прецизионные блоки питания детекторов, вакуумные оптоволоконные гермовводы, а также специализированные монтажные переходники под любые исследовательские оптические микроскопы для академических институтов и заводских лабораторий.
Andor Technology / Andor и названия моделей — товарные знаки их правообладателей. Они указаны только для обозначения оборудования, для которого мы подбираем запчасти. Компания SpareX не является официальным дилером, дистрибьютором или представителем Andor Technology / Andor и не связана с правообладателем. Происхождение, документы и гарантия указываются по каждой позиции в коммерческом предложении.
Другие производители оборудования
- Оборудование и запчасти Agilent Spectroscopy
- Оборудование и запчасти Agilent Cell Analysis
- Оборудование и запчасти Bruker Store
- Оборудование и запчасти Agilent Technologies
- Оборудование и запчасти Agilent Vacuum Technologies
Документы и источники
- Официальный портал Andor Technology — научные камеры, спектрографы и микроскопические системы
- Раздел о компании Andor Technology — история развития, исследовательские лаборатории в Белфасте и холдинг Oxford Instruments
- Сверхчувствительные камеры iXon EMCCD — технические спецификации сенсоров и применение во флуоресцентной микроскопии
- Глубокоохлаждаемые ПЗС-камеры iKon CCD — вакуумная технология герметизации UltraVac и длительное накопление сигнала
- Оптические спектрографы Kymera — модульные системы Черни-Тернера, револьверные турели решеток и спектральный анализ
