泰勒霍普森 Taylor Hobson (泰勒·霍普森) 超精密测量仪器与计量系统
专业提供英国泰勒霍普森 Taylor Hobson (泰勒·霍普森) 高精度表面粗糙度仪、Form Talysurf 轮廓仪、Talyrond 圆度仪、LUPHOScan 非接触三维光学轮廓仪及微对准望远镜,满足精密光学与机械制造测量需求。
Form Talysurf PGI NOVUS 表面粗糙度与轮廓测量仪
Form Talysurf PGI NOVUS 采用双向偏置传感器,提供 20 mm 测量范围与 0.2 nm 分辨率,一次扫描同步分析表面粗糙度与轮廓。仪器适用于精密轴承滚道、喷油嘴及光学透镜的高精度轮廓测量。提供金刚石测针、测臂总成及校准半球备件。
- 标准测头量程 20 mm 扩展至 40 mm
- 全量程测头分辨率达到 0.2 nm
- 双向偏置设计支持上下表面扫描
- 可更换金刚石测针与精密传动模块
Talyrond 585H PRO 高精度圆度与圆柱度测量系统
Talyrond 585H PRO 配备径向精度 ±0.01 µm 的高精度空气轴承主轴与 4 mm 量程传感器,实现全自动圆度与圆柱度评定。系统集成全自动调心调平工作台与高分辨率立柱,支持复杂零件几何参数分析。提供气源净化过滤组件与校准玻璃半球。
- 精密气浮主轴径向回转精度 ±0.01 µm
- 电感测头量程达到 4 mm 高动态范围
- 零摩擦气浮主轴具备优异热稳定性
- 全自动调心调平系统与精密测头备件
Surtronic S-100 与 DUO II 便携式表面粗糙度仪
Surtronic S-100 与 DUO II 便携式粗糙度仪适用于加工车间现场测量 Ra、Rz、Rp、Rv 及 Rt 等多项表面参数。设备配备 2.4 英寸彩色液晶屏幕、金刚石电感式传感器与可充电锂聚合物电池组。配备校准样板、测头保护套与通讯线缆。
- 支持表面粗糙度参数 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt 评定
- 配备清晰直观的 2.4 英寸彩色液晶显示屏
- 高灵敏度金刚石电感式传感器测头
- 内置可充电锂聚合物电池适合移动检测
LUPHOScan 260 与 HD 非接触三维光学轮廓仪
LUPHOScan 260 采用多波长干涉技术 MWLI,对非球面与自由曲面光学元件进行非接触式三维形貌扫描。系统支持最大直径 260 mm 光学镜片的高速全自动测量,配备自动调心调平工作台。提供光纤传感测头、标准校准球及专用装夹附件。
- 采用创新多波长干涉测量技术 MWLI
- 非接触测量非球面、球面与自由曲面透镜
- 支持最大直径 260 mm 的光学元件全域扫描
- 集成全自动快速调心调平精密工作台
Micro Alignment Telescope 微对准望远镜与 Talyvel 电子水平仪
Micro Alignment Telescope 微对准望远镜建立从零到无穷远的准直线光轴,用于检测导轨直线度、平行度与轴系同轴度。Talyvel 6 电子水平仪实现高精度微小角度偏差测量。提供光学测微器、五角棱镜、靶标镜片与刚性安装支架备件。
- 建立从零到无穷远的超精密光学视线准轴
- 集成双向精密光学测微器量化空间偏差
- 适用于轴承孔系同轴度与大型机床导轨检测
- 配合 Talyvel 6 差动电子水平仪进行平面度测量
Taylor Hobson 金刚石测针、校准样件与测量工装
配件系列涵盖 2 µm 针尖半径的精密金刚石测针、加长连接杆以及 Form Talysurf 和 Talyrond 专用的传感器测臂。提供用于日常校准的玻璃半球样件、多刻线台阶样板与光学平晶。工装夹具确保各类异形零件在测量过程中的刚性定位。
- 标准 100 mm 臂长配 2 µm 针尖半径金刚石测针
- 高精度玻璃半球与经过检定的台阶高度校准样板
- 表面粗糙度电感传感器专用高刚度测臂总成
- 模块化精密三爪卡盘与可调式工件定位定位工装
Form Talysurf 接触式轮廓仪工作原理与传感器校准
Form Talysurf PGI NOVUS 测量系统采用双向偏置电感传感器 Dual Bias Gauge,在 20 mm 全量程内实现 0.2 nm 分辨率的双向连续测量。校准过程采用标准粗糙度样板与台阶样板,通过软件自动调整传感器增益系数。定期使用光学放大装置检查 2 µm 半径金刚石针尖状态,防止磨损引起高频粗糙度参数失真。更换测臂总成后,Metrology 4.0 测量软件自动平衡测力并完成零点归位。
Talyrond 超高精度气浮主轴运行规范与维护要点
Talyrond 585H PRO 圆度仪核心为径向回转精度 ±0.01 µm 的超精密气浮主轴,主轴运动副处于完全无摩擦状态。设备需配置三级精密压缩空气过滤单元,有效滤除水分、油雾及大于 0.01 µm 的固体杂质。气源压力低于安全阈值时联锁保护自动切断主轴电机,防止轴瓦干磨受损。日常保养包括检查气路压差、冷凝水排放以及使用高精度玻璃半球进行谐波误差分析。
LUPHOScan 非接触三维光学轮廓仪干涉测量技术
LUPHOScan 260 光学轮廓仪采用多波长干涉测量技术 MWLI,实现非球面、球面及自由曲面光学元件的高精度三维形貌扫描。测量前全自动调心调平工作台在 120 秒内完成被测镜片空间位姿配准。柔性光纤测头能适应陡峭曲率变化并保持干涉信号稳定。维护流程涵盖定期检查光源强度、使用无尘擦拭耗材清洁光纤接口以及利用碳化硅校准球执行精度校验。
Surtronic 便携式粗糙度仪车间现场测量规范
Surtronic S-100 与 DUO II 便携式粗糙度仪专为机械加工现场快速评定 Ra、Rz、Rp、Rv 及 Rt 等参数设计。驱动装置以标准行进速度带动电感测头平稳滑移,微处理器按国际滤波标准实时解算粗糙度数据。操作人员每班测量前应在随附标准样块上进行示值比对校验。当金刚石探针出现磨损或微裂纹时应成套更换测头组件,并在系统菜单中执行灵敏度校正。
Micro Alignment Telescope 空间几何尺寸光学校准
Micro Alignment Telescope 微对准望远镜用于重型装备导轨直线度、基座平面度及轴承孔同轴度的光学测量。望远镜在刚性圆柱镜身内构建从零到无穷远的空间基准光轴。内置双向光学测微器可直接读取靶标中心与视准线的空间偏差值。结合 Talyvel 6 差动电子水平仪,可对大型机械导轨、涡轮机组及机架结构实现全面的空间几何精度验收。
高精度金刚石测针、校准样板与专用夹具配置
配件体系涵盖 100 mm 和 200 mm 臂长配 2 µm 针尖的优质金刚石测针、高刚性传感器测臂以及专用快速接头。量值溯源由检定合格的光学玻璃半球、多刻线台阶样板及精密平晶提供支持。专用三爪卡盘与可调式分度定位工装在测量复杂工件表面粗糙度、波纹度与形状误差时提供刚性夹持基准。
Taylor Hobson及型号名称为其各自权利人的商标,仅用于说明我们为之寻找配件的设备。SpareX 不是Taylor Hobson的官方经销商、分销商或代表,与商标权利人无关联。每项产品的来源、文件和质保在报价单中逐项说明。
