GEVIS 工业机器视觉与光学检测系统

GEVIS 工业机器视觉检测装备：IB2000S 在线检测机、IB2000P 宽幅输送机、AMSI 表面扫描仪、SBI 3S 检测分选机及紫外频闪光源规格。

GEVIS IB2000S 单列产线在线机器视觉检测系统

GEVIS IB2000S 视觉检测系统专为单列生产线上的独立产品提供连续在线光学检测。该设备的光学检测组件能够在高达每秒 2.5 米的线体运行速度下，精准辨识工件的轮廓形状、几何尺寸、色调深浅以及烘烤色泽等各类外观缺陷。

采用单色高对比度检测模式完成工件轮廓与外观色调分析
全彩光谱成像检测密封封口完整性以及表面装饰图案质量
三维光学轮廓扫描准确获取工件高度数据与立体体积参数
直接对接产线气动剔废机构实现毫秒级响应精准剔除缺陷品

GEVIS IB2000P 宽幅多列输送带视觉检测机

GEVIS IB2000P 宽幅视觉检测设备专为宽度达 2000 毫米且存在多列物料并行的宽幅输送机设计。设备在高达每秒 500 毫米的输送速度下实施连续成像检测，并支持对产品上表面与下表面同步开展双面光学扫描与缺陷判定。

面向宽度达 2000 毫米的多列输送带物料提供宽幅连续检测
双面光学成像模块同步检测运动工件的上表面与下表面状态
快速识别几何轮廓形变、色泽异常以及过热焦糊等表面瑕疵
联动多通道气动拨动排针实现各列独立选别与精准缺陷剔除

GEVIS SBI 3S 模块化输送带视觉检测设备

GEVIS Standard Inspector Conveyor SBI 3S 检测机用于各类密封圈、骨架油封、轴承滚子及塑料瓶盖的尺寸测量与表面瑕疵筛查。模块化架构融合了振动供料、方向整理机构、高速输送以及精密频闪光学成像系统。

高精度测量环形密封构件与注塑件的外径、内径与壁厚公差
光学检测边缘毛边、溢料毛刺、划伤裂隙与表面微观微孔缺陷
模块化机身设计支持针对不同尺寸规格的零件快速更换导向治具
多通道气动分选机构将检测合格件与各类缺陷件分拣至独立料仓

GEVIS AMSI 工业级平面几何测量与表面瑕疵扫描仪

GEVIS AMSI 计量级表面检测扫描仪针对金属平整件、复合材料板件的微观形貌与加工瑕疵开展精确分析。设备光学扫描系统能够以微米级分辨率构建三维表面几何模型，满足车间在线快速巡检与实验室精密检测的双重使用要求。

具备微米级空间分辨率的三维表面微观轮廓扫描与重构成像
精确测量基准平面的平面度公差、平行度公差及几何微观变形
快速检测坯料表面存在的微观微裂纹、砂眼气孔、划伤及分层缺陷
支持无缝嵌入自动化流水线运行或配置于独立质检工位使用

GEVIS Hexameter 非接触式光学坐标测量机

基于 Metro Tool 测量技术的 GEVIS Hexameter 光学测量系统用于复杂中小型零件的高精度坐标尺寸检测。系统依靠精密光学自动对位算法确定工件空间姿态，在无需专用机械仿形夹具的前提下实现多品种零件快速测定。

面向精密仪表构件、钟表配件及微型切削刀具实施非接触轮廓测量
依靠光学自动对齐与基准校准功能省去繁琐的专用机械夹具制作
完成绝对坐标尺寸测量并可直接与三维 CAD 工程图纸进行偏差比对
快速自动化扫描循环并即时输出格式规整的专业计量检测报告

GEVIS 工业级紫外 LED 光源与高速频闪控制器

GEVIS 光学照明组件可精确调节光谱波长分布、投射角度与毫秒级频闪发光脉宽。高能量紫外 LED 光源采用阳极氧化铝合金外壳以强化散热性能，内部集成高精度温度传感器并配套专有频闪控制电路板。

配备阳极氧化铝合金高效散热外壳的高能量紫外 LED 光源灯组
内置温度监控传感元件防止发光芯片热漂移并保持光通量稳定
专有电子驱动单元提供微秒级响应精度的精密频闪发光控制
与输送线物料运动位置实现硬件级严格同步防止漏光与误触发

意大利工业工程底蕴与 GEVIS 机器视觉制造品质标准

意大利工程企业 Gevis srl 位于帕尔马省菲登扎工业区，专注于研发制造工业级机器视觉检测系统与自动化光学品控装备。企业配备拥有精密光学平台、光场仿真系统及高级工程 CAD/CAE 软件的专业光学实验室。工程技术团队面向食品加工、汽车零部件制造、制药工程及高分子塑料领域提供软硬件一体化光学检测方案，为高速输送生产线提供严密的全检把关。

通过采用高分辨率工业光学传感芯片搭配专业远心镜头组，检测设备能够在生产线高速节拍下实时辨识微观表面瑕疵、几何尺寸微小偏差及材质微观异常。

IB2000S 与 IB2000P 产线在线视觉检测系统运行机制

IB2000S 与 IB2000P 系列视觉检测装备面向独立包装及散装工件开展连续自动化检测。在单列单通道配置的 IB2000S 机型中，检测线速度高达每秒 2.5 米，系统对工件外部轮廓边缘、几何长宽尺寸、色彩色差及热加工色泽开展多参数综合判定。针对宽度达到 2000 毫米的宽幅流水线，IB2000P 机型支持多列物料以每秒 500 毫米的输送速度并行检测，可加装下部成像组件实现工件上下双面同步光学扫描。

内置智能图像解算算法即时生成缺陷品在输送带上的精确平面坐标，毫秒级触发联动下游多段气动分拣排针，阻止瑕疵物料流入后续工序。

面向密封件与轴承零件的 SBI 3S 模块化输送检测机

Standard Inspector Conveyor SBI 3S 模块化输送带检测系统专用于回转体构件、橡胶密封圈、O 型圈、油封及塑料盖板的快速几何尺寸测定与外观缺陷筛查。系统整合了散料振动排序料斗、稳定导向皮带输送机以及多角度环形工业相机成像模块。设备能够准确测定密封环的内径公差、外径真圆度、边缘毛刺飞边、橡胶局部微裂隙及发泡气孔缺陷。

机台模块化架构便于在切换不同规格密封圈加工任务时快速更换机械定位导轨，高速气动喷气嘴依据检测判定结果将合格件与各类缺陷件准确送入对应料槽。

AMSI 工业级表面形貌测量扫描仪与三维重构技术

GEVIS AMSI（汽车与机械工业表面计量扫描仪）专门用于精密机械加工件平整表面的微观三维形貌测量与加工缺陷分析。光学扫描探头以微米级垂直与水平空间分辨率重建受检平面的三维点云模型。系统可量化分析工件基准平面的粗糙度参数、平面度误差以及两面平行度，准确探查抛光面、磨削面及复合材料板面存在的刮伤划痕、微小砂眼微孔及材料分层缺陷。

AMSI 扫描仪既能直接安装于自动化流水线开展在线检测，也能作为精密检测仪器部署于理化计量室与检验工位，输出标准化的三维几何检测数据报告。

基于 Metro Tool 技术的 Hexameter 非接触光学坐标测量机

GEVIS Hexameter 非接触光学坐标测量设备为精密仪器零件、钟表齿轮构件、微电子芯片支架及金属切削刀具提供精密尺寸测量。依托核心的 Metro Tool 测量技术，设备免除了传统三坐标测量机所需的昂贵定制机械定位夹具。操作人员只需将待测工件放置于载物台，光学系统便能自动捕捉边缘轮廓、计算零件空间摆放姿态并完成工件坐标系对齐。

机台在微米级精度下自动完成点线面几何尺寸测量，将测量数据与数字 CAD 图纸比对公差，在不触碰或刮伤精细微型工件的前提下快速生成质量评定报告。

大功率紫外 LED 工业光源与微秒级频闪同步控制

工业机器视觉成像的稳定性在很大程度上取决于工位照明方案的配光设计。GEVIS 自主研发制造工业级 LED 专用光源，可按工艺需求定制发光管阵列排布、光谱波长区间、照射入射角及偏振滤镜。在荧光物质检测工位，高功率紫外 LED 光源配备阳极氧化铝散热机壳与内部温度监测元件，杜绝光衰并保护半导体芯片发光稳定性。

自主开发的电子频闪控制器依据输送线编码器位置反馈信号实现微秒级脉冲放电，闪光时刻与工件位置严格对准，消除高速运动带来的成像拖影模糊现象。

GEVIS及型号名称为其各自权利人的商标，仅用于说明我们为之寻找配件的设备。SpareX 不是GEVIS的官方经销商、分销商或代表，与商标权利人无关联。每项产品的来源、文件和质保在报价单中逐项说明。